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光學(xué)厚度測量儀是一種基于光學(xué)原理，利用光的反射、折射、干涉等特性，對物體厚度進(jìn)行高精度測量的設(shè)備。隨著科技的不斷發(fā)展，光學(xué)厚度測量技術(shù)在材料科學(xué)、電子制造、涂層檢測等領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。本文將介紹它的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其優(yōu)勢。一...
柔性薄膜電阻是一種具有高柔韌性和可塑性的新型電阻材料，廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、傳感器、柔性顯示等領(lǐng)域。為了評估柔性薄膜電阻的性能和質(zhì)量，檢測其電阻值的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性成為一項(xiàng)重要的任務(wù)。近年來，微流體技術(shù)作為一種精準(zhǔn)、高效的測試方法被引入柔性薄膜電阻測試中，其應(yīng)用和優(yōu)勢值得深入探討。本文將對微流體技術(shù)在測試中的應(yīng)用與優(yōu)勢進(jìn)行分析。一、微流體技術(shù)在柔性薄膜電阻測試中的應(yīng)用：1.傳感器制備：微流體技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對柔性薄膜電阻的定點(diǎn)涂布和模式化制備，通過微細(xì)的流動(dòng)控制，在柔性基底上形成高精...
薄膜電阻廣泛應(yīng)用于電子行業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域，如顯示屏、光伏電池等。為了確保薄膜電阻的質(zhì)量和性能，需要進(jìn)行準(zhǔn)確可靠的測試。傳統(tǒng)的儀器對操作人員的技術(shù)要求較高，并且測試速度較慢。而基于機(jī)器學(xué)習(xí)算法的智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā)與應(yīng)用可以提高測試效率和準(zhǔn)確性，為薄膜電阻產(chǎn)業(yè)帶來更大的便利和發(fā)展機(jī)遇。一、智能化薄膜電阻測試儀的開發(fā)：1.數(shù)據(jù)采集：儀器通過傳感器對薄膜電阻進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集。這些數(shù)據(jù)可以包括電阻值、溫度、濕度等信息。采集的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練模型的輸入，用于構(gòu)建機(jī)器學(xué)習(xí)算法。2.模型訓(xùn)練...
激光測厚儀主要應(yīng)用于鋰電池正、負(fù)極涂布，鋰電池正、負(fù)極輥壓的厚度和面密度測量。對于傳統(tǒng)涂布線，技術(shù)人員建議采用離線式激光測厚儀通過抽檢的方式折中地解決邊緣監(jiān)控問題；而對于新上的涂布線，推薦使用該設(shè)備放置于放卷后、涂布前，測量基材的厚度和面密度；也可以放置在烘箱后、收卷前，測量烘干極片的厚度和面密度。激光測厚儀設(shè)備與傳統(tǒng)設(shè)備最大的不同在于其光斑很小，不僅在極片中間區(qū)域表現(xiàn)良好，還能準(zhǔn)確地監(jiān)控極片頭尾和左右的輪廓，避免削薄區(qū)和頭尾出現(xiàn)較大的面密度或厚度偏差而導(dǎo)致批量報(bào)廢。本產(chǎn)品主...
微納米尺度探針在高精度薄膜電阻測試中發(fā)揮著重要的作用。這種方法可以提供更準(zhǔn)確和可靠的測量結(jié)果，為材料科學(xué)、電子器件制造等領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試方法通常使用宏觀尺寸的探針或接觸頭進(jìn)行測量，但這種方法存在一些局限性。例如，在微米甚至納米級別上進(jìn)行精確測量時(shí)，無法避免與被測樣品之間發(fā)生非破壞性接觸，并且可能會受到外界因素（如表面粗糙度）影響。因此，利用微納米尺度探針來進(jìn)行高精度薄膜電阻測試成為了一種新型解決方案。微納米尺度探針是由特殊材料制成并具有極細(xì)...
1.概述由于光刻的延遲和功率限制的綜合影響，制造商無法水平縮放，因此制造商正在垂直堆疊芯片設(shè)備，含三維集成技術(shù)。由于移動(dòng)設(shè)備的激增推動(dòng)了對更小電路尺寸的需求，這已變得至關(guān)重要，但這種轉(zhuǎn)變并不總是那么簡單。三維集成方案可以采用多種形式，具體取決于所需的互連密度。圖像傳感器和高密度存儲器可能需要將一個(gè)芯片直接堆疊在另一個(gè)芯片上，并通過硅通孔連接，而系統(tǒng)級封裝設(shè)計(jì)可能會將多個(gè)傳感器及其控制邏輯放在一個(gè)重新分配層上。2.業(yè)內(nèi)行情EVGroup業(yè)務(wù)發(fā)展總監(jiān)ThomasUhrmann認(rèn)為...
